Институт Физики им.Л.В.Киренского
Победитель конкурса сайтов СО РАН - 2010
Яndex

www.yandex.ru
  Главная
  Офис
  Новости
  Службы
  Семинары
  Достижения
  Научные отчеты
  Лаборатории
  Направления
  Интеграция
  Разработки
  Ученый совет
  Советы по защитам
  Аспирантура
  Конференции
  Конкурсы, Гранты
  Публикации
  Препринты
  Издательство
  Библиотека
  Совет молодых учёных
  Студентам
  Виртлаб
  История
  Фоторепортажи
  Персоналии
  О  Киренском
  Ученики и соратники
  Мемориальный музей
  Бухг-рия, план. отдел
  Download
  Карта  сервера

Установка для элементного экспресс анализа вещества методом атомно-эмиссионной спектроскопопии

Назначение и технические характеристики

Установка для элементного экспресс анализа вещества методом атомно-эмиссионной спектроскопопии

Установка позволяет определять элементный состав жидкости, порошка или монолита по спектру излучения плазмы в высокочастотном (66 или 44 кГц) разряде с высокой чувствительностью, точностью и воспроизводимостью.

Основные технические характеристики:

  • эрозия электрода 10–12 г/К;
  • коэффициент вариации 2%;
  • предел обнаружения 10 –10 %;
  • расход плазмообразующего газа (аргона) 1,5–6 л/мин.;
  • вес одной пробы анализируемого вещества в порошковом состоянии от 1 мг до нескольких грамм; вес анализируемого монолита ограничений не имеет.

Наиболее интересные результаты:

  • анализ геологических проб донных отложений;
  • анализ металлических отливок, слитков, изделий без предварительной подготовки в экспрессном режиме;
  • анализ тяжелых фракций нефти Ванкорского нефтегазового месторождения.


© И н с т и т у т Ф и з и к и
им. Л. В. Киренского СО РАН 1998—2012 Для вопросов и предложений

Российская академия наук СО РАН TopList